NotoriousP
Legacy Member
Voor mijn thesis doe ik onderzoek op dunne filmen en de meest gebruikte methode voor de dikte meting hier is ellipsometrie. Wat er gebeurt is simpel:
Er wordt s en p gepolariseerd licht (in fase) afgeschoten op de laag, dit licht gaat reflecteren en ondergaat daarbij een faseverandering en de intensiteit verhouding zal ook veranderen. Deze 2 worden gemeten en dan kan er via de Fresnal vergelijkingen en de wet van Snell de brekingsindex & dichtheid bepaald worden, daaruit haalt men dan de dikte.
Mijn vraag nu: hoe komt het dat op atomair niveau, reflectie zorgt voor die verandering in fase en in intensiteit (door andere polarasitatie)? Na wat opzoek werk weet ik dat dit komt door elektrische dipolen maar ik vat nog niet helemaal hoe dit precies in zijn werk gaat.
Er wordt s en p gepolariseerd licht (in fase) afgeschoten op de laag, dit licht gaat reflecteren en ondergaat daarbij een faseverandering en de intensiteit verhouding zal ook veranderen. Deze 2 worden gemeten en dan kan er via de Fresnal vergelijkingen en de wet van Snell de brekingsindex & dichtheid bepaald worden, daaruit haalt men dan de dikte.
Mijn vraag nu: hoe komt het dat op atomair niveau, reflectie zorgt voor die verandering in fase en in intensiteit (door andere polarasitatie)? Na wat opzoek werk weet ik dat dit komt door elektrische dipolen maar ik vat nog niet helemaal hoe dit precies in zijn werk gaat.


